上海市集成电路行业协会
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美国国家仪器NI半导体系列上海研讨会(II)

作者:SICA & IC CAFE 发布日期:2016年11月22日 星期二

 引言:

在物联网时代背景下,智能家居、可穿戴设备以及车联网等领域均被行业圈子推向了高潮。如今各大领域技术几近成熟,各类应用也逐步普及,科技生活已近在咫尺!

 

那么问题来了,物联网发展如此之快的推手是谁?相信非无线通信技术的快速发展是基本要素,撇开各大国际半导体厂商的肉搏之战不说,广大群众的生活已经离不开蓝牙WiFi等无线连接技术。因此,这其中商机不容小觑,国内厂商如何把握市场机遇呢?如何设计优秀智能产品?本次活动资深专家将以市场、技术两大方向为你解答疑惑。

 

 

 

嘉宾介绍

 

 

 

(具体嘉宾信息将逐步更新)

-芯片设计工程师及部门主管

-芯片测试工程师及部门主管

-Verification 及 Qualification 部门工程师

-其他IC业内人士

 

 

 

演讲主题

 

 

 

1.实验室到量产——物联网背景下半导体测试总体成本的优化

2.蓝牙低功耗测试方案及案例

3.基于向量的数字通道板卡使用技巧

4.灵活开发NISMU完成源表测试挑战

 

Demo演示:

1.PatternBasedDigital+5171FlawDetection

2.BLETestingDemo

 

活动主办方:美国国家仪器



美国国家仪器,世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件,如LabVIEW,AWR,以及高性价比的模块化硬件,覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来,美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战,提供大量的软件,硬件,覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今,NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择,在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。


联合主办:   IC CAFE   相约张江 

 

 

 

活动详情

【时间】:2016年11月24日,13:00-17:30

【地点】:上海浦东新区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡,近地铁2号线张江高科站5号口(祖冲之路松涛路)

【路线】:地铁2号线5号口出,穿过“黑暗料理小吃”,传奇广场坐电梯到3楼即达(交通银行和中国银行之间);自驾,松涛路路口进,1楼三和面馆旁电梯上

【费用】:免费(提供茶歇)

【报名】:点击下方"阅读原文"即可参与报名

 

  注:活动限半导体行业相关工作人员参加(限额80人),因主办方将进行人员筛选,请认真填写报名信息,信息填写不完整及行业属性不相关者,不在邀请范围内,请悉知。入场请出示通知短信并携带名片。

 

 

 

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